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CAF失效,即離子遷移失效,電子整機(jī)產(chǎn)品中的基板與電子器件之間或線路之間由于存在線間分布電場(chǎng),會(huì)使處于兩極之間某些金屬離子發(fā)生電場(chǎng)作用下的遷移,即陽(yáng)離子向處在陰極狀態(tài)的部位移動(dòng),陰離子會(huì)向處于陽(yáng)極狀態(tài)的部位移動(dòng)。離子在PCB電路的這種電遷移有著極大危險(xiǎn),輕則引起設(shè)備故障,重則會(huì)因引起短路事故而導(dǎo)致火災(zāi)。
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